聯系電話:
15268114110
您現在的位置:首頁 > 產品展示 > 杭州彩譜色差儀,霧度儀 > 霧度儀系列 > 彩譜超大幅面(mian)霧度(du)透過率檢測系統(tong)
彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統
這是一臺設計用于(yu)測定塑料、薄膜、玻璃制品、LCD面板等透(tou)明、半透(tou)明平(ping)行平(ping)面材料(liao)的霧度(du)、總透(tou)光(guang)率(lv)、光(guang)譜透(tou)射性能以及色度(du)Lab參數的(de)設備(bei)。
一(yi)、產品特性(xing)介紹:
1. 具備超大幅面載物(wu)平臺,可完成超大幅面樣(yang)品的測(ce)試(shi),大可支持2.6*1.6m樣(yang)品(pin)上每(mei)個(ge)點的測(ce)試。
2. 具備(bei)(bei)超大幅面載物平臺,并具備(bei)(bei)氣浮功能,大可承受200KG的樣品(pin)在平臺表面輕松移動,使超大超重的樣品(pin)測試起來輕松方便。
3. 具(ju)備(bei)翻(fan)(fan)轉上料功能,平臺(tai)(tai)分為兩部(bu)分,一部(bu)分固定不動,另(ling)一部(bu)分可進行(xing)翻(fan)(fan)轉,翻(fan)(fan)轉好后,樣品可放置到(dao)翻(fan)(fan)轉后的平臺(tai)(tai)上,再翻(fan)(fan)轉回(hui)水平位置,方(fang)便超大(da)超重的樣品運送到(dao)平臺(tai)(tai)上測(ce)試(shi)。
4. 采用一體(ti)機電腦作為(wei)顯示(shi)屏,擁(yong)有(you)良好的(de)人機交互界面。
5. 符(fu)合以下測試標(biao)準:GB/T 2410標(biao)準(zhun)、ASTM D 1003標準。
6. 滿足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三種(zhong)標準照(zhao)明光源下(xia)的霧(wu)度(du)與全透過率以(yi)及(ji)Lab測(ce)量(liang)。
7. 提供專業的(de)霧度以及透過率的(de)測(ce)量分析軟件(jian),可以滿足用(yong)戶對測(ce)試數(shu)據的(de)分析以及管理。
二(er)、產品細節
三、產品參數:
名(ming)稱 | 超大幅面霧(wu)度透過率(lv)檢測(ce)系統 |
光源 | CIE-A、CIE-C、CIE-D65 |
遵(zun)循標準 | ASTMD1003、GB/T2410、CIENo.一5 |
測量參數 | 霧度(HAZE)、透過(guo)率(T),CIE Lab |
光(guang)譜響應 | CIE光譜函數Y/V(λ) |
波(bo)長范圍 | 400-700nm |
波長(chang)間隔 | 10nm |
光(guang)路結(jie)構 | 0/d |
照明與樣品孔徑尺寸 | 16.5mm/21mm |
測量范圍 | 霧度:0-100% |
分辨率 | 霧度:0.01% |
重復(fu)性 | 霧度≤0.1% |
樣品大(da)小 | 厚度≤145mm |
顯(xian)示(shi) | 22英(ying)寸顯示屏(可定(ding)制) |
接口 | USB接口 |
電源 | 220V |
載(zai)物(wu)面積 | 3100*2100mm(可(ke)定制) |
載重 | 大可承受200KG的樣品輕(qing)松(song)移動 |
體積:長X寬X高 | 3700*2200*1650mm |
彩譜超大幅面霧度透過率檢測系統
技術支持:化工儀器網 sitemap.xml